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ELEA-V集成电路高温动态老化系统

ELEA-V集成电路高温动态老化系统:适用于对各种封装形式的数字、模拟、数模混合集成电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。

ELEA-V集成电路高温动态老化系统.jpg

点击次数:  更新时间:2015-3-13 19:14:10  【打印此页】  【关闭
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