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元器件测试:为半导体分立器件、集成电路进行性能测试、高温动态老炼等

序号

产品类别

试验检测标准

1

TTL集成电路

GB/T17574-1998   半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路

2

CMOS集成电路

SJ/T10741-2000半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

3

电压比较器、运算放大器

GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

GB/T17940-2000   半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路

GJB597/3-1990   半导体集成电路电压比较器详细规范

GJB597/5A-1990半导体集成电路运算放大器详细规范

4

时基电路

GB/T   14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

5

电压调整器

GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

6

光电器件

GB/T15651.3-2003   半导体器件分立器件和集成电路 5部分-3 光电子器件测试方法

7

双极型晶体管

GB/T4587-1994   半导体分立器件和集成电路 7部分:双极型晶体管

8

场效应管

GB/T4586-1994   半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

9

二极管

GB/T4023-1997半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

GB/T6571-1995半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管

10

电阻器

GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分:总规范

11

电容器

GB/T2693-2001   电子设备用固定电容器第一部分:总规范

GJB63B-2001   有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范

GJB   191B-2009ZZ含宇航级云母固定电容器通用规范

GJB733A-1996有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范

GJB1312A-2001非固体电解质钽电容器总规范

GJB1313-1991云母电容器总规范

GJB1314-1991  2类瓷介电容器总规范

12

电感器

GJB   675A-2002有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范

13

微波组件

GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

14

元器件高温贮存、温度循环

GJB360B-2009电子及电气元件试验方法

GJB128A-1997   半导体分立器件试验方法

GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序


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